Nicomp 380系列儀器的主要優(yōu)點是其高分辨率，其可以辨析出非常接近的兩個粒徑分布基團，甚至可以從主峰中剔除少數(shù)粒子帶來的雜質(zhì)峰，這些都歸功于其算法是一種高分辨率多峰去卷積算法。

在研究和分析納米級顆粒材料以及確定膠體穩(wěn)定性方面，高分辨率的特性顯得尤為重要。

下面是應用Nicomp380系列儀器可以輕松辨析復雜體系進行研究的兩個案例：

案例一 NICOMP 380納米粒徑分析儀的多峰分布實例

上圖所示是由30%的220 nm和70% 的340nm標準乳液混合在一起所測得的數(shù)據(jù)。根據(jù)高斯算法得到的一個假正態(tài)分布粒徑結果—其給出一個峰值在288nm處的單峰模型。

解決方案：

Nicomp 380DLS正確地檢測出了兩個分布峰，分別位于230nm和345nm處，體積分布顯示230 nm的標準乳膠約占38%，345 nm標準乳膠約占62%。請注意：Nicomp 380也指出了此樣品存在較高的Chi Square（卡方值），當卡方值較大時，使用高斯分析法分析該樣品是不合適的。

案例二 NICOMP 380納米粒徑分析應用于樣品穩(wěn)定性的分析研究

溫度和其他變量可以直接影響粒度分析的結果。可惜的是市場上大多數(shù)納米粒度檢測儀器缺乏相應的技術手段來對樣品進行高分辨率辨析及實時監(jiān)測這些變化。他們一般只能給出一個很寬的單峰分布模型，表明此樣品的成分比較復雜。

解決方案

的Nicomp分析方法可以監(jiān)測隨著時間的推移樣品粒度分布的細微變化趨勢。通過監(jiān)測粒徑分布的變化和增益現(xiàn)象可以幫助研究人員敏銳地洞察出樣品的特性和穩(wěn)定情況。

開始條件：某膠體在常溫條件（26℃）下測試結果如圖，當溫度上升到（40℃），膠體自身將會發(fā)生降解，粒度降低到100 nm以下。

上圖所示，當儀器的控溫系統(tǒng)用了12分鐘，將該膠體樣品升到 40℃，如預期判斷的，峰值開始變小，Nicomp分析方法得到了兩個峰，一個100 nm主峰，需要注意的是仍然有一小部分在原來的位置329 nm處，這和原始樣品的峰值一樣。

當儀器控溫系統(tǒng)升溫到40℃，繼續(xù)保溫15分鐘后，*個峰值繼續(xù)變小，同時Nicomp分析法也看出第二個峰值也變小。