光阻法單顆粒可為超大粒徑顆粒提供可靠、的粒徑和計數數據，揭示出了不同于以往的粒徑分布數據，可以清晰地呈現粒徑分布，而粒徑分布往往是直接與材料物性相關聯的，從研發到生產，各大實驗室均已應用并驗證了儀器可以用作重塑產品品質的強有力工具。

   光阻法單顆粒是創先使用自動稀釋技術來對樣品進行檢測，且提供高分辨率的粒徑檢測分析儀，采用擁有的單顆粒測量技術和動態自動稀釋技術實現單顆粒依次檢測分析，具有的靈敏度、解析度和度，不存在顆粒間相互干擾問題。由于光阻法單顆粒獲得的是真實粒度分 布，因此測量結果重復性好、可靠、統計精度高，特別適于檢測分析亞微米顆粒體系中較大顆粒的分布信息。

   光阻法單顆粒動態自動稀釋和清洗系統使得測試方便快捷。只需通過鼠標的單擊操作，即能幫助用戶在短時間內完成從進樣到檢測，進而清洗系統的所有操作，使用戶獲得粒徑的詳細分布信息。光阻法單顆粒進行升級、檢定、計量、校準，還可用于新測試方法的評價與檢驗、儀器質量和性能核查和量值比對、人員培訓考核等。

   光阻法單顆粒是根據光的散射原理測量粉顆粒大小的，具有測量的動態范圍大、測量速度快、操作方便等優點，是一種適用面較廣的粒度儀，原理上可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布，現實的儀器一般根據具體的用途作具體的設計。光在行進中遇到微小顆粒時，會發生散射，大顆粒的散射角較小，小顆粒的散射角較大。儀器能接收的散射角越大，則儀器的測量下限就越低。