美國PSS粒度儀解析度及重現性是其他同類產品*的

　　美國PSS粒度儀采用的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。粒度檢測分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。NiComp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，美國PSS粒度儀是表征膠體分散系穩定性的重要指標，Zeta電位（正或負）越高，體系越穩定。

　　一、美國PSS粒度儀主要特點：

　　◆ 測定粒徑范圍: 0.5~400 um （可得更大范圍）

　　◆ 二次進樣指數稀釋

　　◆ 全自動進樣系統

　　◆ 光 源：波長714nm大功率固體紅色激光二極管

　　◆ 通道數：8-512個 （且用戶可根據需要自行設定）

　　◆ 進樣量：1ul-1000ul

　　◆ 測量時間：10–180s

　　◆ 美國PSS粒度儀技術的單粒子光學傳感技術 （SPOS技術）

　　◆ 稀 釋: 技術的全自動進樣及稀釋功能，避免污染物的入侵

　　◆ 誤差率：< 1%, 重現性佳

　　◆ 尺寸：Counter 長48cm x寬30cm x高20cm

　　◆ Sampler 長48cm x寬30cm x高58cm

　　◆ 美國PSS粒度儀機臺重量：40公斤